簡介高溫老化試驗(yàn)箱散熱措施
2024-08-12 15:38 林頻儀器
高溫老化試驗(yàn)箱環(huán)境溫度受電路功率影響.老化板位置的變化.烘箱網(wǎng)速變化等因素的影響導(dǎo)致箱內(nèi)溫度場的變化。箱內(nèi)溫度場的劇烈變化會(huì)影響產(chǎn)品的正常老化試驗(yàn)，形成過應(yīng)力，嚴(yán)重時(shí)會(huì)導(dǎo)致電路故障。對(duì)影響設(shè)備的溫度因素進(jìn)行了試驗(yàn)監(jiān)測和分析，找出了影響溫度的主要原因和規(guī)律，采取了更好的散熱措施，防止老化電路過溫故障。
1.高溫老化試驗(yàn)箱內(nèi)的溫場變化受老化電路功率和散熱能力（風(fēng)速）的影響。該設(shè)備不僅控制電路的功率，而且改變了電路的布局。下層盡可能填充電路，逐漸從下層降低電路功率，形成功率梯度，與試驗(yàn)箱風(fēng)速一致，達(dá)到散熱的目的。
2.試驗(yàn)箱采用電熱高溫干燥試驗(yàn)箱，風(fēng)源來自底部。由于試驗(yàn)箱承載板和老化板，風(fēng)速由下而上逐漸降低。根據(jù)試驗(yàn)箱風(fēng)速的特點(diǎn)，老化板的放置方向可與試驗(yàn)箱的風(fēng)向一致，增加通風(fēng)面積，降低風(fēng)速屏障，增強(qiáng)高溫老化試驗(yàn)箱的散熱功能。
3.根據(jù)改進(jìn)措施結(jié)合功率器件DC/DC電源為測試對(duì)象，溫度設(shè)置為80℃，測試電路功率65W(1)逐漸增加到5200W(8)高溫老化試驗(yàn)箱電路功率520W比設(shè)定溫度高5.6℃，符合國家標(biāo)準(zhǔn)要求(8)℃或8%)。